個別要素法

個別要素法（こべつようそほう、英: Distinct Element Method、DEM）または離散要素法（Discrete Element Method、DEM）は、解析の対象を自由に運動できる多角形や円形・球の要素の集合体としてモデル化し、要素間の接触・滑動を考慮して、各時刻におけるそれぞれの要素の運動を逐次追跡して解析する手法である。もとは岩盤工学に適用するためにPeter A. Cundall (1971)およびCundall and Strack (1979)により発表された論文に端を発しており、現在は液状化や土石流など地盤の挙動解析やコンクリート構造物、粉体（化学工学、リチウムイオン電池、薬学、農学など）、磁気相互作用力を有する電子写真システムのトナーの挙動解析などに用いられている。