File:Atomic_force_microscope_block_diagram.svg · Wikimedia Commons · See Wikimedia Commons
microscopio a forza atomica
Sign in to saveAlso known as Scanning Force Microscope, Atomic Force Microscope, AFM
very high-resolution type of scanning probe microscope
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Il microscopio a forza atomica (spesso abbreviato in AFM, dall'inglese atomic force microscope) è un microscopio a scansione di sonda (SPM) inventato da Gerd Binnig, e nel 1986. Oltre a essere utilizzato come mezzo d'indagine, è anche uno dei principali strumenti di manipolazione della materia su scala nanometrica.
Abstract from DBpedia / Wikipedia · CC BY-SA