microscópio de força atômica

A microscopia de força atômica é uma das modalidades de uma vasta família de microscopias derivadas a partir da idéia do chamado microscópio de tunelamento. O microscópio de tunelamento foi desenvolvido por Gerd Binnig e Heinrich Rohrer no início de 1980, um desenvolvimento que lhes valeu o Prêmio Nobel de Física em 1986. Binnig, Calvin Quate e Christoph Gerber inventaram o primeiro AFM (Atomic Force Microscope) em 1986, "com objetivo de medir forças menores que 1μN entre a superfície da ponteira (tip) e a superfície da amostra". Desde a invenção do microscópio de força atômica (MFA), ele se tornou o mais usado microscópio de varredura por sonda (MVS). Os microscópios (MVS) são compostos basicamente por uma pequena ponta delgada, que pode ser de silício (SiO2 ou Si3N4), diamante, etc., que varre a superfície de interesse nas direções x, y e z, movendo-se uma sonda ou uma superfície através de um dispositivo piezolétrico.