Skip to content
EntityQ10329629· pop 19· linked from 491 articles

Atoomkrachtmicroscopie

Sign in to save

Also known as AFM, Atomic Force Microscopy, scanning force microscopy, SFM, Scanning Force Microscopy, Microscopy, Atomic Force

type of scanning probe microscopy

Research

54,452 papers

via PubMed

Wikidata facts

Subclass of
analysis
Image
Oscillatoria A2 gluteraldehyde fixed dry tapping-mode (005) xy 5um z 2um (214911322).jpg
Has use
chemistry
Show 2 more facts
Commons category
Atomic force microscopy
different from
optical microscopy
Sources (1)

via Wikidata · CC0

Article · Nederlands

Atoomkrachtmicroscopie (Engels: atomic force microscopy, meestal kortweg AFM genoemd) is een scanning probe microscopy-techniek om net als bij scanning tunneling microscopy met een sonde het oppervlak van een object op atomaire schaal te kunnen verkennen, maar dan zonder de beperking dat het object elektrisch geleidend moet zijn. In plaats van een tunnelstroom die constant wordt gehouden meet de AFM het doorbuigen van een bladveer (cantilever) en corrigeert die zodat de naald een constante kracht van het oppervlak van het object ondervindt. De atoomkrachtmicroscoop kan niet alleen worden gebruikt om het oppervlak te bestuderen, maar ook om het te beïnvloeden: men kan moleculen op het oppervlak van het object manipuleren door gebruik te maken van de naald van de microscoop.

Abstract from DBpedia / Wikipedia · CC BY-SA