ATPG
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自動測試圖樣產生（英語：Automatic test pattern generation, ATPG）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。 超大型積體電路的测试平台，要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作，因為它的複雜度很高。針對组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑电路（Sequential logic）的電路測試，必須要使用不同的 ATPG 方法。
Abstract from DBpedia / Wikipedia · CC BY-SA
Connections
sequential logic
Entity
boolean satisfiability problem
Entity
fault model
Entity
Design for testing
Entity
Scan chain
Entity
International Standard Book Number
Entity
algorithm
Entity
P versus NP problem
Entity
application-specific integrated circuit
Entity
NP-complete
Entity
very-large-scale integration
Entity
combinational logic
Entity
electronic design automation
Entity
Joint Test Action Group
Entity
state space
Entity
controllability
Entity
observability
Entity
pseudorandomness
Entity
failure analysis
Entity
VHSIC
Entity