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Wikidata facts
- Subclass of
- electron microscope
- Image
- Stem1.JPG
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- Commons category
- Scanning electron microscope
- discoverer or inventor
- Manfred von Ardenne
- uses
- electron
- used by
- scanning electron microscopy
- different from
- scanning electron microscopy
Sources (3)
via Wikidata · CC0
Article · 日本語
走査型電子顕微鏡(そうさがたでんしけんびきょう、英語: Scanning Electron Microscope、SEM)は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、(後方散乱電子、BSE)、、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM(走査型透過電子顕微鏡)と呼ばれる。 TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。
Abstract from DBpedia / Wikipedia · CC BY-SA