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走査型電子顕微鏡

File:Misc_pollen.jpg · Wikimedia Commons · See Wikimedia Commons

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走査型電子顕微鏡

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Also known as SEM, raster electron microscope

電子顕微鏡の一種

In the Vinony graph

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It sits within the topics Electron microscopy techniques, German inventions of the Nazi period and Scientific techniques.

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Commons category
Scanning electron microscope
discoverer or inventor
Manfred von Ardenne
Sources (3)

via Wikidata · CC0

Article · 日本語

走査型電子顕微鏡(そうさがたでんしけんびきょう、英語: Scanning Electron Microscope、SEM)は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、(後方散乱電子、BSE)、、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM(走査型透過電子顕微鏡)と呼ばれる。 TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。

Abstract from DBpedia / Wikipedia · CC BY-SA

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