File:Misc_pollen.jpg · Wikimedia Commons · See Wikimedia Commons
Растровый электронный микроскоп
Sign in to saveAlso known as SEM, raster electron microscope
микроскоп
In the Vinony graph
Within Vinony's link graph, Растровый электронный микроскоп is referenced by 1,295 other articles, and connects out to electron microscope, electron and nanometre.
Vinony files it under Electron microscopy techniques, German inventions of the Nazi period and Scientific techniques.
Its subject is documented across 43 Wikipedia language editions.
Wikidata facts
- Subclass of
- electron microscope
- Image
- Stem1.JPG
Show 5 more facts
- Commons category
- Scanning electron microscope
- discoverer or inventor
- Manfred von Ardenne
- uses
- electron
- used by
- scanning electron microscopy
- different from
- scanning electron microscopy
Sources (3)
via Wikidata · CC0
Article · Русский
Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) (англ. scanning electron microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом. Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 3—10 раз (то есть эквивалентно увеличению сильной ручной линзы) до 1 000 000 раз, что приблизительно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов. Сегодня возможности растровой электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, от биологии до наук о материалах. Существует огромное число выпускаемых рядом фирм разнообразных конструкций и типов РЭМ, оснащённых детекторами различных типов.
Abstract from DBpedia / Wikipedia · CC BY-SA