
قياس إهليلجي
Sign in to savethumb|An Ellipsometer at Laboratory for Analysis and Architecture of Systems|LAAS-CNRS in Toulouse, France Ellipsometry is an optical technique for investigating the dielectric properties (complex refractive index or dielectric function) of thin films. Ellipsometry measures the change of polarization upon reflection or transmission and compares it to a model.
Wikidata facts
- Instance of
- measurement
Show 3 more facts
- Commons gallery
- Ellipsometry
- maintained by WikiProject
- WikiProject Mathematics
- Commons category
- Ellipsometry
Sources (2)
via Wikidata · CC0
Article · العربية
القياس الإهليلجي هو تقنية بصرية لقياس خصائص السطوح والأغشية الرقيقة. يعطي هذا القياس قيم سماكة وقرينة انكسار المادة التي يتكون منها الغشاء أو السطح، كما يمكن باستخدام تمثيل طيفي استنتاج مكونات المادة أو كمية الشوائب فيها أو طبيعتها البلورية أو ناقليتها الكهربائية أو شكل السطح (مثال ) وخشونته. تستعمل هذه التقنية بشكل واسع في مجال البصريات والإلكترونيات، كونها لا تتلف العينة المدروسة ولا تدخل عليها إي تغيير، وكون دقتها تصل إلى أجزاء من النانومترات بالنسبة للسماكة أي ما يعادل طبقة ذرية واحدة، وخمسة بالألف بالنسبة لقرينة الانكسار.
Abstract from DBpedia / Wikipedia · CC BY-SA