Skip to content
قياس إهليلجي
EntityQ898774· pop 25· linked from 76 articles

قياس إهليلجي

Sign in to save

thumb|An Ellipsometer at Laboratory for Analysis and Architecture of Systems|LAAS-CNRS in Toulouse, France Ellipsometry is an optical technique for investigating the dielectric properties (complex refractive index or dielectric function) of thin films. Ellipsometry measures the change of polarization upon reflection or transmission and compares it to a model.

Wikidata facts

Instance of
measurement
Show 3 more facts
Commons gallery
Ellipsometry
maintained by WikiProject
WikiProject Mathematics
Commons category
Ellipsometry
Sources (2)

via Wikidata · CC0

Article · العربية

القياس الإهليلجي هو تقنية بصرية لقياس خصائص السطوح والأغشية الرقيقة. يعطي هذا القياس قيم سماكة وقرينة انكسار المادة التي يتكون منها الغشاء أو السطح، كما يمكن باستخدام تمثيل طيفي استنتاج مكونات المادة أو كمية الشوائب فيها أو طبيعتها البلورية أو ناقليتها الكهربائية أو شكل السطح (مثال ) وخشونته. تستعمل هذه التقنية بشكل واسع في مجال البصريات والإلكترونيات، كونها لا تتلف العينة المدروسة ولا تدخل عليها إي تغيير، وكون دقتها تصل إلى أجزاء من النانومترات بالنسبة للسماكة أي ما يعادل طبقة ذرية واحدة، وخمسة بالألف بالنسبة لقرينة الانكسار.

Abstract from DBpedia / Wikipedia · CC BY-SA

Gallery (6)