Elipsometría
Sign in to savethumb|An Ellipsometer at Laboratory for Analysis and Architecture of Systems|LAAS-CNRS in Toulouse, France Ellipsometry is an optical technique for investigating the dielectric properties (complex refractive index or dielectric function) of thin films. Ellipsometry measures the change of polarization upon reflection or transmission and compares it to a model.
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La elipsometría espectroscópica es una técnica de análisis óptico que se basa en el cambio del estado de polarización de la luz que se incide sobre un material. Dicho análisis es no destructivo y es útil para la determinación de espesores de películas delgadas, y constantes ópticas de materiales (índices de refracción, coeficiente de extinción).
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