Шлирен-метод

Шли́рен-ме́тод (от нем. Schlieren — оптическая неоднородность) — способ обнаружения оптических неоднородностей в прозрачных, преломляющих средах, и выявления дефектов отражающих поверхностей. Иногда его называют методом Тёплера — по имени автора, немецкого физика Августа Тёплера.